Micrografía de paratungstato de amonio SEM

La micrografía SEM de paratungstato de amonio es una imagen formada a partir de la microestructura de barrido del paratungstato de amonio (APT) mediante microscopio electrónico de barrido (SEM). Y de acuerdo con los diferentes requisitos, el SEM permite una observación detallada ajustando el aumento o el ajuste.

Un microscopio electrónico de barrido (SEM) es un tipo de microscopio electrónico que produce imágenes de una muestra al escanearla con un haz enfocado de electrones. Los electrones interactúan con los átomos en la muestra, produciendo varias señales que contienen información sobre la topografía y composición de la superficie de la muestra. El haz de electrones generalmente se escanea en un patrón de escaneo ráster, y la posición del haz se combina con la señal detectada para producir una imagen. SEM puede lograr una resolución mejor que 1 nanómetro. Las muestras se pueden observar en alto vacío, bajo vacío, en condiciones húmedas (en SEM ambiental) y en un amplio rango de temperaturas criogénicas o elevadas.